当前所在位置: 首页 > 产品首页 >分析仪器、实验室设备 >光学分析仪器 >X射线衍射仪 >OLYMPUSX射线衍射仪BTX Profiler

OLYMPUSX射线衍射仪BTX Profiler

  • 品牌:OLYMPUS
  • 型号:BTX Profiler
  • 阅读次数:8966

产品介绍

用XRD和XRF组合技术对材料进行全面分析

  • 利用2维传输XRD技术进行矿物学-结晶相分析
  • 使用能量色散XRF技术进行元素分析
  • 数据与结果的整合天衣无缝
  • 节省了操作成本、空间和时间

BTX Profiler所使用的创新型XRD技术是美国国家航空航天局成功的火星科学实验室项目中的“好奇”号漫游者曾经使用过的技术。它所采用的另一种技术是Olympus的X射线分析仪所使用的广受赞誉、优质实用的XRF技术。

规格参数

BTX Profiler的技术规格

  用于单个样品分析的BTX Profiler 用于多个样品分析的BTX Profiler
XRD的技术规格    
XRD范围 5-55度 2θ 5-55度 2θ
XRD分辨率 0.25度 2θ 0.25度 2θ
XRD探测器类型 1024 × 256像素2维Peltier致冷CCD 1024 × 256像素2维Peltier致冷CCD
样件颗粒大小 <150 μm碾压粉末(100目筛) <150 μm碾压粉末(100目筛)
其它样品类型 凝胶、润滑脂 凝胶、润滑脂
样品量 ~ 0.5 g ~ 0.5 g
X射线目标材料 铜(钴为可选项) 铜(钴为可选项)
X射线管电压 30 kV 30 kV
X射线管最大电流 330 μA 330 μA
XRF的技术规格    
XRF探测器 大区域硅漂移探测器 大区域硅漂移探测器
X射线目标材料
X射线管几何形状 发射目标端窗口 发射目标端窗口
X射线管电压 40 kV 40 kV
X射线管最大电流 200 μA 200 μA
轻元素分析 氦冲,大约0.25 l/min 氦冲,大约0.25 l/min
主要过滤器 可配置7个位置 可配置7个位置
样品量 ~2 g ~2 g
     
工作温度 -10 °C~35°C -10 °C~35°C
重量 23.13 kg / 单样品仪器 32.66 kg / 带20个位置自动进样机的仪器
外型尺寸 49.3 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 单样品仪器 67.4 cm × 39.7 cm × 34.4 cm / 带20个位置自动进样机的仪器

BTX Profiler的技术规格

XRD分辨率 0.25o 2? FWHM
XRD范围 5 - 55o 2?
探测器类型 1024 x 256像素;2维Peltier致冷CCD
XRF能量分辨率 200eV,5.9 keV
XRF能量范围 3到25 keV
样件颗粒大小 <150 μm 碾压矿物质(100目筛,150 μm)
样品量 ~ 15 mg
X射线目标材料 钴或铜(钴为可选项)
X射线管电压 30 kV
X射线管功率 10 W
数据存储 40 Gb - 坚固耐用的内部硬盘驱动器
无线连接 802.11 b/g,从网络浏览器进行遥控
工作温度 -10oC到35oC
重量 12.5 kg

返回首页 | 产品中心 | 客户中心 | 人才中心 | 合作平台 | 联系方式

Copyright© 2013-2024 天津西纳智能科技有限公司 版权所有
电话:400-9619-005
传真:400-9619-005
联系人:余子豪 400-9619-005
邮箱:sales@e-xina.com
地址:天津市和平区南京路235号河川大厦A座22D

a

津公网安备12010102000946号 津ICP备13001985号-1

扫描微信二维码关注我们

QQ联系
加企业微信咨询