RIFTEK宽度测量系统RF590

产品介绍

测量方法基于使用光学千分尺(micrometer),它测量板材边缘的位置。根据物体的宽度,系统可以有两种版本:一微米系统和两微米系统。

千分尺操作基于所谓的“阴影”原理。千分尺由两部分组成——发射器和接收器。LED 的辐射由透镜准直。将物体置于准直光束区域后,形成的阴影图像由 CCD 光电探测器阵列进行扫描。处理器根据阴影边界(边界)的位置计算对象(片材)的位置。系统可包含RF651系列或RF656系列光学测微计。

指示装置用于接收来自千分尺的信息,分析和显示测量结果。千分尺须通过安装在指示装置外壳上的特殊连接器连接。带触摸屏的 LCD 显示屏显示信息。当宽度值超过公差时,操作员将收到声音警报通知。宽度值输出基于对从千分尺(微米)接收到的值的分析,并针对给定的平均时间计算,并以等于平均时间的周期重复。

性能特点

  • 该系统用于非接触式测量片材的宽度,如胶带、板、板等。
  • 它是一个独立的软件和硬件系统,包含光学千分尺和指示装置。
  • 可以针对特定任务更改系统参数。

选型指南

产品结构与细节

技术参数

规格参数


返回首页 | 产品中心 | 客户中心 | 人才中心 | 合作平台 | 联系方式

Copyright© 2013-2024 天津西纳智能科技有限公司 版权所有
电话:400-9619-005
传真:400-9619-005
联系人:余子豪 400-9619-005
邮箱:sales@e-xina.com
地址:天津市和平区南京路235号河川大厦A座22D

a

津公网安备12010102000946号 津ICP备13001985号-1

扫描微信二维码关注我们

QQ联系
加企业微信咨询